Autoridades y personal. . (2025/9-20)
Resolución de 9 de enero de 2025, de la Universidad de Cádiz, por la que se convoca proceso selectivo para cubrir plaza de personal técnico, de gestión y de administración y servicios laboral fijo, de la categoría de Titulado de Grado Medio de apoyo a la Docencia e Investigación de la Universidad de Cádiz.
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Número 9 - Miércoles, 15 de enero de 2025
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el registro de imágenes de electrones retrodispersos. Registro de imágenes a partir de
señales generadas durante la interacción de la muestra con el haz de iones.
16. Aspectos específicos del programa de interfaz de usuario en el microscopio
electrónico de barrido Nova NanoSEM 450. Registro de imágenes SEM de alta resolución
en el microscopio electrónico de barrido Nova NanoSEM 450 y modos de operación de
la columna de electrones. Registro de imágenes STEM en el microscopio electrónico de
barrido Nova NanoSEM 450 (Sistema STEM II).
17. Aspectos específicos del programa de interfaz de usuario en el microscopio
Scios2. Registro de imágenes SEM de alta resolución en el microscopio Scios 2 y modos
de operación de la columna de electrones. Registro de imágenes STEM en el microscopio
Scios 2 (Sistema STEM 3+). Aspectos prácticos para el registro de imágenes de electron
channeling contrast (ECCI). Aspectos prácticos del análisis de estrés residual de
materiales en sistemas de haces de iones focalizados mediante la técnica de correlación
de imagen digital (TIC).
18. Microanálisis mediante espectroscopía X-EDS en modo SEM/STEM. Registro
de espectros: Puntuales y de línea. Mapas de distribución elemental. Aspectos prácticos
específicos para el análisis cualitativo con el software Aztec EDS: Registro y análisis de la
información. Aspectos específicos del programa EDAX para microanálisis. Cuantificación
mediante el método ZAF.
19. Procedimiento experimental para el estudio de secciones transversales. Aspectos
prácticos para la toma de imágenes de alta resolución de secciones transversales.
Aspectos prácticos para el análisis composicional mediante X-EDS de una sección
transversal.
20. Preparación convencional de muestras electrón transparentes para microscopía
electrónica de transmisión (TEM) en modo manual para experimentos exsitu e insitu: Fabricación de muestras para TEM en holder preinclinado y en holder horizontal.
Preparación de muestras para TEM de materiales sensibles o no conductores.
Método avanzado automatizado de fabricación de muestras para TEM mediante el
software AutoTEM 4: Descripción, configuración y parámetros. Métodos específicos
no convencionales de preparación de muestras para TEM: Planar view, back side y
fabricación de nanopilares. Aspectos prácticos.
21. Registro de patrones de electrones retrodispersados en un microscopio de
barrido. Aspectos prácticos para la obtención de mapas de fase y mapas de orientaciones
mediante la técnica EBSD en el microscopio Scios2: Adquisición y análisis de datos
mediante el Software Aztec EBSD y Aztec Crystal. Registro de patrones de electrones
transmitidos en un microscopio de barrido. Detalles específicos del software Aztec EBSD
para el registro de experimentos de difracción de electrones transmitidos (TKD).
22. Realización de experimentos de reconstrucción 3D en un microscopio electrónico
de barrido de doble haz (Sistemas Dual Beam SEM-FIB). Aspectos prácticos de la
preparación de la muestra de manera manual. Aspectos específicos del Software
automatizado AutoSlice and view 4: Descripción, configuración y parámetros. Realización
de experimentos de reconstrucción 3D en sistemas Dual Beam SEM-FIB con análisis
composicional y/o EBSD: Métodos para el análisis 3D composicional y cristalográfico:
Método In situ y Ex situ: Aspectos prácticos y configuración. Reconstrucción 3D de
imágenes con el programa Avizo: Aspectos fundamentales básicos para el alineamiento,
reconstrucción y segmentación de volúmenes.
23. Estudio de materiales en un microscopio electrónico de barrido de doble haz
(Sistemas Dual Beam SEM-FIB) a temperatura criogénica. Aspectos experimentales para
el análisis morfológico y composicional de muestras sensibles en el microscopio de doble
haz Scios2. Procedimiento experimental con el equipamiento Cryomat: Operaciones de
montaje del sistema y aspectos técnicos importantes.
Depósito Legal: SE-410/1979. ISSN: 2253-802X
https://www.juntadeandalucia.es/eboja
00313885
BOJA
Boletín Oficial de la Junta de Andalucía
página 273/17
el registro de imágenes de electrones retrodispersos. Registro de imágenes a partir de
señales generadas durante la interacción de la muestra con el haz de iones.
16. Aspectos específicos del programa de interfaz de usuario en el microscopio
electrónico de barrido Nova NanoSEM 450. Registro de imágenes SEM de alta resolución
en el microscopio electrónico de barrido Nova NanoSEM 450 y modos de operación de
la columna de electrones. Registro de imágenes STEM en el microscopio electrónico de
barrido Nova NanoSEM 450 (Sistema STEM II).
17. Aspectos específicos del programa de interfaz de usuario en el microscopio
Scios2. Registro de imágenes SEM de alta resolución en el microscopio Scios 2 y modos
de operación de la columna de electrones. Registro de imágenes STEM en el microscopio
Scios 2 (Sistema STEM 3+). Aspectos prácticos para el registro de imágenes de electron
channeling contrast (ECCI). Aspectos prácticos del análisis de estrés residual de
materiales en sistemas de haces de iones focalizados mediante la técnica de correlación
de imagen digital (TIC).
18. Microanálisis mediante espectroscopía X-EDS en modo SEM/STEM. Registro
de espectros: Puntuales y de línea. Mapas de distribución elemental. Aspectos prácticos
específicos para el análisis cualitativo con el software Aztec EDS: Registro y análisis de la
información. Aspectos específicos del programa EDAX para microanálisis. Cuantificación
mediante el método ZAF.
19. Procedimiento experimental para el estudio de secciones transversales. Aspectos
prácticos para la toma de imágenes de alta resolución de secciones transversales.
Aspectos prácticos para el análisis composicional mediante X-EDS de una sección
transversal.
20. Preparación convencional de muestras electrón transparentes para microscopía
electrónica de transmisión (TEM) en modo manual para experimentos exsitu e insitu: Fabricación de muestras para TEM en holder preinclinado y en holder horizontal.
Preparación de muestras para TEM de materiales sensibles o no conductores.
Método avanzado automatizado de fabricación de muestras para TEM mediante el
software AutoTEM 4: Descripción, configuración y parámetros. Métodos específicos
no convencionales de preparación de muestras para TEM: Planar view, back side y
fabricación de nanopilares. Aspectos prácticos.
21. Registro de patrones de electrones retrodispersados en un microscopio de
barrido. Aspectos prácticos para la obtención de mapas de fase y mapas de orientaciones
mediante la técnica EBSD en el microscopio Scios2: Adquisición y análisis de datos
mediante el Software Aztec EBSD y Aztec Crystal. Registro de patrones de electrones
transmitidos en un microscopio de barrido. Detalles específicos del software Aztec EBSD
para el registro de experimentos de difracción de electrones transmitidos (TKD).
22. Realización de experimentos de reconstrucción 3D en un microscopio electrónico
de barrido de doble haz (Sistemas Dual Beam SEM-FIB). Aspectos prácticos de la
preparación de la muestra de manera manual. Aspectos específicos del Software
automatizado AutoSlice and view 4: Descripción, configuración y parámetros. Realización
de experimentos de reconstrucción 3D en sistemas Dual Beam SEM-FIB con análisis
composicional y/o EBSD: Métodos para el análisis 3D composicional y cristalográfico:
Método In situ y Ex situ: Aspectos prácticos y configuración. Reconstrucción 3D de
imágenes con el programa Avizo: Aspectos fundamentales básicos para el alineamiento,
reconstrucción y segmentación de volúmenes.
23. Estudio de materiales en un microscopio electrónico de barrido de doble haz
(Sistemas Dual Beam SEM-FIB) a temperatura criogénica. Aspectos experimentales para
el análisis morfológico y composicional de muestras sensibles en el microscopio de doble
haz Scios2. Procedimiento experimental con el equipamiento Cryomat: Operaciones de
montaje del sistema y aspectos técnicos importantes.
Depósito Legal: SE-410/1979. ISSN: 2253-802X
https://www.juntadeandalucia.es/eboja
00313885
BOJA
Boletín Oficial de la Junta de Andalucía
