BOJA

Boletín Oficial de la Junta de Andalucía
Número 9 - Miércoles, 15 de enero de 2025

página 273/16

Nova NanoSEM 450 y de doble haz Scios2. Esquema específico de vacío del sistema
Dual Beam del microscopio Scios2.
7. Interacción electrón-materia. Señales generadas en el proceso de interacción:
Electrones secundarios y electrones retrodispersos: Origen y propiedades fundamentales
de cada señal. Detectores de electrones en un microscopio electrónico de barrido
asociados a cada tipo de señal: Principio de funcionamiento y características. Detectores
de electrones instalados en los microscopios electrónicos de barrido: Nova NanoSEM
450 y de doble haz Scios2: Características técnicas y funciones. Operaciones básicas de
chequeo y mantenimiento de los detectores de electrones.
8. Formación de imagen e interpretación de imágenes en un microscopio electrónico
de barrido (SEM). Modos de imagen en SEM. Origen de los contrastes en imágenes
obtenidas en SEM: Contraste topográfico y contraste composicional. Contraste
Cristalográfico (ECCI).
9. Difracción de electrones retrodispersados en microscopia electrónica de barrido
(EBSD). Mapas de kikuchi: Origen y características. Mapas de fases y mapas de
orientaciones. Fenómeno de difracción de electrones trasmitidos (Transmission Kikuchi
Difraction TKD) en un microscopio electrónico de barrido. Características del detector
de electrones retrodispersados del microscopio Scios2. Operaciones de chequeo y
mantenimiento.
10. Generación de Rayos X en microscopia electrónica de barrido (SEM).
Espectrómetro de energía dispersiva de rayos X (X-EDS): Principio de funcionamiento
y componentes. Análisis cualitativo y cuantitativo de rayos X en SEM. Detectores de
rayos X en los microscopios de barrido Nova NanoSEM 450 y de doble haz Scios2:
Características técnicas y operaciones básicas de chequeo y mantenimiento.
11. Formación del haz de iones. Características generales del haz de iones en los
sistemas Dual Beam. Fuentes de emisión de iones: Fundamento, especies usadas y
propiedades fundamentales. Fuente de iones Galio y apertura de iones en el microscopio
Scios2. Puesta en funcionamiento de la emisión de iones y operaciones básicas de
control y mantenimiento del cañón de iones. Columna de iones y sistema de lentes en
una columna de haces de iones focalizados. Operaciones de chequeo y mantenimiento.
12. Interacción entre los iones y la materia. Fundamento, mecanismos y modelos
de interacción. Daños causados en un material por la interacción con iones. Señales
generadas tras la interacción iones-materia: Origen de las señales y fundamento.
Detector de electrones en un sistema de haz de iones focalizados. Formación de imagen
en un sistema de haz de iones focalizados. Características e interpretación.
13. Sistemas de Inyección de gases (GIS). Fundamento. Modificación química de
las superficies en un sistema de haces focalizados: Fenómeno de deposición y etching.
Sistema de gases en el microscopio de barrido de doble haz Scios 2. Características
técnicas, tipos y aplicaciones. Operaciones de chequeo y mantenimiento de los sistemas
GIS. Módulo micromanipulador. Especificaciones técnicas del micromanipulador Easylift
del microscopio Scios2. Operaciones básicas de control, puesta a punto, recambio y
calibración del micromanipulador.
14. Equipamiento específico módulo Cryomat para el estudio de materiales a
temperatura criogénica. Características técnicas y componentes. Configuración y montaje
del sistema de refrigeración. Operaciones básicas de chequeo y mantenimiento.

15. Aspectos experimentales de la Microscopía electrónica de barrido. Operaciones
básicas de alineamiento de un microscopio electrónico de barrido en modos de trabajo de
bajo vacío y alto vacío. Procedimiento para el análisis estructural y morfológico mediante
el registro de imágenes de electrones secundarios. Análisis composicional mediante
Depósito Legal: SE-410/1979. ISSN: 2253-802X

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Bloque 2: Operación y Análisis de la información.