II. Autoridades y personal. - B. Oposiciones y concursos. MINISTERIO DE INDUSTRIA, COMERCIO Y TURISMO. Escala de Titulados Superiores de Organismos Autónomos. (BOE-A-2020-11521)
Resolución de 22 de septiembre de 2020, de la Subsecretaría, por la que se convoca proceso selectivo para ingreso, por el sistema general de acceso libre, en la Escala de Titulados Superiores de Organismos Autónomos del MITC, especialidad de Propiedad Industrial.
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BOLETÍN OFICIAL DEL ESTADO
Jueves 1 de octubre de 2020
Sec. II.B. Pág. 82774
ofrecidos por la Oficina Española de Patentes y Marcas, O.A. Servicios ofrecidos por
otras oficinas nacionales de patentes.
Tema 9. El Arreglo de Estrasburgo, de 24 de marzo de 1971, relativo a la
Clasificación Internacional de Patentes (CIP). Alcance jurídico, aplicación y contenido.
Símbolos y estructura actual de la CIP. Procedimiento de revisión de la CIP y
reclasificación de documentos.
Tema 10. Otros sistemas de Clasificación de Patentes. CPC (Cooperative Patent
Classification): Acuerdo de Cooperación entre la Oficina Europea de Patentes y la
Oficina Americana de Propiedad Industrial (USPTO). Gestación del acuerdo y situación
actual. Estructura de la CPC: esquema principal, códigos de indexación y sección Y.
Procedimiento de revisión de la CPC y reclasificación de documentos.
Tema 11. La investigación en España: Concepto, evolución, situación actual y
problemática. Principales indicadores. Comparación internacional. La I+D en los sectores
público y privado. Investigación básica y aplicada. El sistema nacional de cienciatecnología-empresa. Principales agentes del sistema. La innovación en España:
Evolución, situación y problemática. La Ley 14/2011, de 1 de junio, de la Ciencia. La
Tecnología y la Innovación.
Tema 12. Fundamentos y conceptos de metrología. Medición, mensurando,
magnitudes de influencia. Exactitud y precisión. Repetibilidad y reproducibilidad del
resultado de mediciones. Valor verdadero y valor corregido. Error: componente aleatoria
y sistemática. Incertidumbre: típica, combinada y expandida. Conceptos estadísticos
aplicados a la metrología: probabilidad, varianza, desviación típica, distribución normal,
intervalo de confianza, coeficiente de correlación y grados de libertad.
Tema 13. Instrumentación de medida y patrones de medida de temperatura,
longitud, masa, electricidad y magnetismo. Revisión del Sistema Internacional de
Unidades: redefinición del kilogramo, del amperio, del kelvin y del mol; definiciones y
realizaciones. Organismos de referencia: CEM, CGPM y ENAC. Conceptos de
trazabilidad, calibración y ensayo. Normativa de ensayo: normas UNE, ISO.
Tema 14. Dispositivos sensores. Concepto y características principales de un
sensor. Principio de funcionamiento y aplicaciones de: sensores de efecto Hall, sensores
LVDT, sensores piezoeléctricos, termopares, sensores resistivos, sensores capacitivos y
sensores inductivos.
Tema 15. Investigación de propiedades físicas: propiedades mecánicas, eléctricas y
magnéticas. Instrumentación y métodos de ensayo de materiales. Ensayos destructivos:
incitaciones mecánicas. Ensayos no destructivos: medición de variables físicas por
medios ópticos, por radiación, por medios térmicos, por medios eléctricos o magnéticos,
por ondas sonoras o ultrasonoras.
Tema 16. Tecnología láser. Principios básicos de operación de un láser.
Características de la luz láser. Tipos de láser. Aplicaciones láser. Espectroscopia,
interferometría láser, LIDAR, distanciometría. Ejemplos de aplicaciones LIDAR.
Tema 17. Nuevas Tecnologías. Nanotecnología. Conceptos fundamentales.
Nanomateriales. Aplicaciones industriales. El Grafeno: Propiedades, aplicaciones y
técnicas de producción. Nuevas tecnologías de telecomunicaciones: casos de utilización
y parámetros de las capacidades fundamentales de los sistemas IMT-2020, conforme la
Recomendación UIT M.2083.
Tema 18. Historia de los sistemas operativos. Tipos de sistemas operativos.
Conceptos de los sistemas operativos: Procesos. Bloqueos irreversibles. Administración
de memoria. Entrada/ salida. Archivos. Seguridad. El shell. Llamadas al sistema para
administración de procesos, de archivos, de directorios. Sistemas monolíticos. Sistemas
de capas. Máquinas virtuales. Modelos cliente-servidor.
Tema 19. Conceptos de datos masivos (big data), inteligencia artificial, aprendizaje
automático (machine learning) y aprendizaje profundo (Deep learning). Tipos de
aprendizaje automático: supervisado, no supervisado y reforzado. Ejemplos de
aplicación del aprendizaje profundo. Concepto y ejemplo de aplicaciones de la
cve: BOE-A-2020-11521
Verificable en https://www.boe.es
Núm. 260
Jueves 1 de octubre de 2020
Sec. II.B. Pág. 82774
ofrecidos por la Oficina Española de Patentes y Marcas, O.A. Servicios ofrecidos por
otras oficinas nacionales de patentes.
Tema 9. El Arreglo de Estrasburgo, de 24 de marzo de 1971, relativo a la
Clasificación Internacional de Patentes (CIP). Alcance jurídico, aplicación y contenido.
Símbolos y estructura actual de la CIP. Procedimiento de revisión de la CIP y
reclasificación de documentos.
Tema 10. Otros sistemas de Clasificación de Patentes. CPC (Cooperative Patent
Classification): Acuerdo de Cooperación entre la Oficina Europea de Patentes y la
Oficina Americana de Propiedad Industrial (USPTO). Gestación del acuerdo y situación
actual. Estructura de la CPC: esquema principal, códigos de indexación y sección Y.
Procedimiento de revisión de la CPC y reclasificación de documentos.
Tema 11. La investigación en España: Concepto, evolución, situación actual y
problemática. Principales indicadores. Comparación internacional. La I+D en los sectores
público y privado. Investigación básica y aplicada. El sistema nacional de cienciatecnología-empresa. Principales agentes del sistema. La innovación en España:
Evolución, situación y problemática. La Ley 14/2011, de 1 de junio, de la Ciencia. La
Tecnología y la Innovación.
Tema 12. Fundamentos y conceptos de metrología. Medición, mensurando,
magnitudes de influencia. Exactitud y precisión. Repetibilidad y reproducibilidad del
resultado de mediciones. Valor verdadero y valor corregido. Error: componente aleatoria
y sistemática. Incertidumbre: típica, combinada y expandida. Conceptos estadísticos
aplicados a la metrología: probabilidad, varianza, desviación típica, distribución normal,
intervalo de confianza, coeficiente de correlación y grados de libertad.
Tema 13. Instrumentación de medida y patrones de medida de temperatura,
longitud, masa, electricidad y magnetismo. Revisión del Sistema Internacional de
Unidades: redefinición del kilogramo, del amperio, del kelvin y del mol; definiciones y
realizaciones. Organismos de referencia: CEM, CGPM y ENAC. Conceptos de
trazabilidad, calibración y ensayo. Normativa de ensayo: normas UNE, ISO.
Tema 14. Dispositivos sensores. Concepto y características principales de un
sensor. Principio de funcionamiento y aplicaciones de: sensores de efecto Hall, sensores
LVDT, sensores piezoeléctricos, termopares, sensores resistivos, sensores capacitivos y
sensores inductivos.
Tema 15. Investigación de propiedades físicas: propiedades mecánicas, eléctricas y
magnéticas. Instrumentación y métodos de ensayo de materiales. Ensayos destructivos:
incitaciones mecánicas. Ensayos no destructivos: medición de variables físicas por
medios ópticos, por radiación, por medios térmicos, por medios eléctricos o magnéticos,
por ondas sonoras o ultrasonoras.
Tema 16. Tecnología láser. Principios básicos de operación de un láser.
Características de la luz láser. Tipos de láser. Aplicaciones láser. Espectroscopia,
interferometría láser, LIDAR, distanciometría. Ejemplos de aplicaciones LIDAR.
Tema 17. Nuevas Tecnologías. Nanotecnología. Conceptos fundamentales.
Nanomateriales. Aplicaciones industriales. El Grafeno: Propiedades, aplicaciones y
técnicas de producción. Nuevas tecnologías de telecomunicaciones: casos de utilización
y parámetros de las capacidades fundamentales de los sistemas IMT-2020, conforme la
Recomendación UIT M.2083.
Tema 18. Historia de los sistemas operativos. Tipos de sistemas operativos.
Conceptos de los sistemas operativos: Procesos. Bloqueos irreversibles. Administración
de memoria. Entrada/ salida. Archivos. Seguridad. El shell. Llamadas al sistema para
administración de procesos, de archivos, de directorios. Sistemas monolíticos. Sistemas
de capas. Máquinas virtuales. Modelos cliente-servidor.
Tema 19. Conceptos de datos masivos (big data), inteligencia artificial, aprendizaje
automático (machine learning) y aprendizaje profundo (Deep learning). Tipos de
aprendizaje automático: supervisado, no supervisado y reforzado. Ejemplos de
aplicación del aprendizaje profundo. Concepto y ejemplo de aplicaciones de la
cve: BOE-A-2020-11521
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Núm. 260
